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BeamMap2 代表了一種完全不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。它擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力,允許在光束行進(jìn)過程中的多個(gè)位置進(jìn)行測量。這種實(shí)時(shí)掃描狹縫系統(tǒng)使用旋轉(zhuǎn)圓盤上多個(gè) Z 平面中的 XY 狹縫對(duì)同時(shí)測量四個(gè)不同 Z 位置的四個(gè)光束輪廓。BeamMap2 的獨(dú)特設(shè)計(jì)最有利于實(shí)時(shí)測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。
我們一站式供應(yīng)各種類型的激光分析儀,光束分析儀,光斑分析儀,光斑輪廓測量儀,狹縫掃描儀,光束質(zhì)量分析儀,激光斷面分析儀,光束輪廓儀,可提供選型、技術(shù)指導(dǎo)、安裝培訓(xùn)、個(gè)性定制等全生命周期、全流程服務(wù),歡迎聯(lián)系我們!
BeamMap2 代表了一種完全不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。它擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力,允許在光束行進(jìn)過程中的多個(gè)位置進(jìn)行測量。這種實(shí)時(shí)掃描狹縫系統(tǒng)使用旋轉(zhuǎn)圓盤上多個(gè) Z 平面中的 XY 狹縫對(duì)同時(shí)測量四個(gè)不同 Z 位置的四個(gè)光束輪廓。BeamMap2 的獨(dú)特設(shè)計(jì)最有利于實(shí)時(shí)測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。


主要特點(diǎn):
多種探測器選項(xiàng),覆蓋 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm,硅探測器
650 至 1800 nm,InGaAs 探測器
1800 至 2300/2500 nm,InGaAs(擴(kuò)展)探測器
符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束直徑測量
端口供電 USB 2.0
自動(dòng)增益功能
可選載物臺(tái)配件,適用于符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的 M2 測量
True2D? 狹縫
分辨率達(dá) 0.1 μm
5 Hz 更新率(可調(diào)節(jié)范圍為 2 至 10 Hz)
輪廓連續(xù)/準(zhǔn)連續(xù)光束
光束直徑 5 μm 至 4 mm
多 z 平面掃描
XYZ 輪廓,加上 θ-Φ
焦點(diǎn)位置和直徑
實(shí)時(shí) M2、指向和發(fā)散測量
以 ±1 μm 的重復(fù)性識(shí)別焦點(diǎn)(取決于光束)
典型應(yīng)用:
非常小的激光光束輪廓分析
光學(xué)組裝和儀器調(diào)校
OEM 集成
鏡頭焦距測試
實(shí)時(shí)診斷聚焦和對(duì)準(zhǔn)錯(cuò)誤
實(shí)時(shí)將多個(gè)組件設(shè)置到同一焦點(diǎn)
使用可用的 M2DU 階段進(jìn)行 M2 測量

規(guī)格參數(shù):
| 項(xiàng)目 | 說明 |
| 波長范圍 | Si 探測器:190 到 1150 nm InGaAs 探測器:650 到 1800 nm Si + InGaAs 探測器:190 到 1800 nm Si + 擴(kuò)展 InGaAs 探測器:190 到 2300 或 2500 nm |
| 掃描光斑直徑 | Si 探測器:5 μm 到 4 mm InGaAs 探測器:10 μm 到 3 mm 擴(kuò)展 InGaAs 探測器:10 μm 到 2 mm |
| 測量平面間距 | 100 μm:-100, 0, +100, +400 μm 250 μm:-250, 0, +250, +1000 μm 500 μm:-500, 0, +500, +2000 μm 750 μm:-750, 0, +750, +3000 μm |
| 光斑腰直徑測量 | ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的二階矩(4σ)直徑 擬合高斯和平頂(TopHat)模型 1/e2(13.5%)寬度 用戶可選峰值百分比 適用于非常小光束的 Knife-Edge 模式 |
| 光斑腰位置測量 | X、Y、Z 三軸精度 ± 20 μm(建議聯(lián)系 DataRay 獲取推薦) |
| 適用光源類型 | 連續(xù)波(CW)、準(zhǔn)連續(xù)波(Quasi-CW)激光 |
| 分辨率與精度 | 0.1 μm 或掃描范圍的 0.05% ± < 2% 或 ± 0.5 μm |
| M2 測量 | 范圍:1 到 >20,精度 ± 5% |
| 發(fā)散度 / 準(zhǔn)直度 / 指向性測量 | 最佳可達(dá) 1 mrad(建議聯(lián)系 DataRay 獲取推薦) |
| 最大功率與輻照度 | 最大總功率 1 W;最大輻照度 0.5 mW/μm2 |
| 增益范圍 | 1000:1 切換增益;ADC 范圍 4096:1 |
| 圖形顯示 | X-Y 位置與剖面圖縮放 倍率:x1 到 x16 |
| 刷新率 | ~5 Hz,可調(diào)范圍 2 到 10 Hz |
| 合格/不合格顯示 | 屏幕可選顯示合格/不合格顏色,適合質(zhì)量檢測和生產(chǎn)使用 |
| 數(shù)據(jù)平均功能 | 用戶可選滑動(dòng)平均(1 到 8 次采樣) |
| 統(tǒng)計(jì)功能 | 最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差支持長時(shí)間數(shù)據(jù)記錄 |
| XY 剖面與重心顯示 | 支持光束漂移監(jiān)測與記錄 |
| 系統(tǒng)要求 | Windows 10 64 位操作系統(tǒng) |
輪廓圖:

上一個(gè)產(chǎn)品
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